概述
原文链接: https://blog.csdn.net/baldicoot_/article/details/104069868
题目
Description
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
Input
输入描述:
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输入样例:
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
Output
输出描述:
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输出样例:
1 3
思路: 题中已告知好芯片的数量是超过坏芯片的。这也就是说所有芯片对于某一芯片的检测结果统计,所得到的正确结果永远是会大于错误结果的,我们只需找到第一个好的芯片,按照这个好的芯片的测试结果,就能得出所有芯片的好坏测试。
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner sc = new Scanner(System.in);
int n = sc.nextInt(); //输入芯片的个数
int[][] arr = new int[n][n];
//输入测试结果
for(int i = 0; i < n; i++) {
for(int j = 0; j < n; j++) {
arr[i][j] = sc.nextInt();
}
}
int temp = 0;
for(int j = 0; j < n; j++) { //列
int True = 0; //好芯片的数量
int False = 0; //坏芯片的数量
for(int i = 0; i < n; i++) { //行
if( i == j ) { //芯片不能对本身进行测试
continue;
}else if( arr[i][j] == 1 ) {
True++;
}else {
False++;
}
}
//如果好芯片个数大于坏芯片的个数,则说明这个芯片为好芯片
if( True >= False ) {
temp = j;
break;
}
}
//输出好芯片的 编号
for(int i = 0; i < n; i++) {
if( arr[temp][i] == 1 ) {
System.out.print(i+1 + " ");//因为索引从0开始,所以要+1
}
}
}
}
最后
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