[VIP试题] 蓝桥杯 BASIC-23 芯片测试

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我是靠谱客的博主体贴蜗牛，这篇文章主要介绍[VIP试题] 蓝桥杯 BASIC-23 芯片测试，现在分享给大家，希望可以做个参考。

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路

思路一：
已知好芯片数比坏的芯片数多，换句话说，也就是只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数，就可以判断这个芯片是一个好芯片。
思路二：
另一种思路是：若半数以上芯片认为它是好芯片，则它就是好芯片。
原因：题目中说，其中坏的芯片的判断是随机的要不是1要不是0，所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言，用坏的芯片去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%，而如果一个好的芯片（检测方）去判断这个好的芯片（被检测），这个结果一定是1，已知好芯片比坏芯片多，所以一个好的芯片，被检测的结果显示1的总数一定会大于显示0的个数。

思路一代码：

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#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
	int n;
	cin>>n;
	int a[21][21]={0};	
	//输入数据
	for(int i=0;i<n;i++){
		for(int j=0;j<n;j++){
			cin>>a[i][j];
		}
		cout<<endl;
	}
	//遍历筛选，如果此数1的结果大于0，则输出
	for(int i=0;i<n;i++){
		int flag0=0;//分别用flag0和flag1记录0和1的次数
		int flag1=0;//对每个数使用完后还要归零，所以下一轮循环开始时又置零
		for(int j=0;j<n;j++){
			if(a[i][j]==0){
				flag0++;
			}else{
				flag1++;
			}
		}
		if(flag1>flag0){//一轮循环判断一个数就行了
			cout<<i+1<<" ";//因为下标从0开始
		}
	}
	return 0;
}

思路二代码：

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#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
	int n;
	cin>>n;
	int a[21][21]={0};
	//当某个数得了1时，用b[]来记录 
	int b[21]={0};
	//记录1/2的总数是多少 
	int t=n/2;	
	for(int i=0;i<n;i++){
		for(int j=0;j<n;j++){
			cin>>a[i][j];
			//如果其他数对b[j]的检测结果是1 
			if(a[i][j]==1){
				b[j]++;
			}
		}
		cout<<endl;
	}
	for(int k=0;k<n;k++){
		//如果过半数，说明必为正常 
		if(b[k]>t){
			cout<<k+1<<" ";
		}
	}
	return 0;
}