概述
问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
思路
思路一:
已知好芯片数比坏的芯片数多,换句话说,也就是只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数,就可以判断这个芯片是一个好芯片。
思路二:
另一种思路是:若半数以上芯片认为它是好芯片,则它就是好芯片。
原因:题目中说,其中坏的芯片的判断是随机的要不是1要不是0,所以对一个好的芯片(被检测)的判断而言,用坏的芯片去判断(检测方)这个好的,显示1和显示0的概率都是50%,而如果一个好的芯片(检测方)去判断这个好的芯片(被检测),这个结果一定是1,已知好芯片比坏芯片多,所以一个好的芯片,被检测的结果显示1的总数一定会大于显示0的个数。
思路一代码:
#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
int n;
cin>>n;
int a[21][21]={0};
//输入数据
for(int i=0;i<n;i++){
for(int j=0;j<n;j++){
cin>>a[i][j];
}
cout<<endl;
}
//遍历筛选,如果此数1的结果大于0,则输出
for(int i=0;i<n;i++){
int flag0=0;//分别用flag0和flag1记录0和1的次数
int flag1=0;//对每个数使用完后还要归零,所以下一轮循环开始时又置零
for(int j=0;j<n;j++){
if(a[i][j]==0){
flag0++;
}else{
flag1++;
}
}
if(flag1>flag0){//一轮循环判断一个数就行了
cout<<i+1<<" ";//因为下标从0开始
}
}
return 0;
}
思路二代码:
#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
int n;
cin>>n;
int a[21][21]={0};
//当某个数得了1时,用b[]来记录
int b[21]={0};
//记录1/2的总数是多少
int t=n/2;
for(int i=0;i<n;i++){
for(int j=0;j<n;j++){
cin>>a[i][j];
//如果其他数对b[j]的检测结果是1
if(a[i][j]==1){
b[j]++;
}
}
cout<<endl;
}
for(int k=0;k<n;k++){
//如果过半数,说明必为正常
if(b[k]>t){
cout<<k+1<<" ";
}
}
return 0;
}
最后
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