蓝桥杯 BASIC-23 芯片测试

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我是靠谱客的博主彩色黄豆，这篇文章主要介绍蓝桥杯 BASIC-23 芯片测试，现在分享给大家，希望可以做个参考。

资源限制
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问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

思路：由题意可知，好零件比坏零件多，所以比较每一个零件被检测为好的次数，若好的次数大于坏的次数，则此零件必定为好零件。

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#include <iostream>
using namespace std;

int main() {
	int array[20][20];
	//装每个零件好的次数
	int res[20];
	int n = 0;
	cin >> n;
	for (size_t i = 0; i < n; i++)
	{
		for (size_t j = 0; j < n; j++)
		{
			cin >> array[i][j];
		}
	}
	int sum = 0;//好零件的次数
	for (size_t i = 0; i < n; i++)
	{
		for (size_t j = 0; j < n; j++)
		{
			if (array[j][i]==1 && i!=j)
			{
				sum++;
			}
		}
		res[i] = sum;//记录此零件被标记为好的次数
		sum = 0;//进行下一个零件判断前，前把好零件次数归零
	}
	for (size_t i = 0; i < n; i++)
	{
		if (res[i]>=(n/2))
		{
			//因为数组是从零开始，所以输出时要加一
			cout << i + 1 << " ";
		}
	}
	return 0;
}