概述
通过《专栏01.05–EMI》介绍了EMI相关的测试,那么下面介绍与EMS相关的测试:
ESD静电放电测试
测试目的:评估电气电子设备遭受静电放电时的性能。
测试方法:直接放电(接触放电与空气放电)、间接放电(耦合板放电)
- 接触放电对可触及的金属部分放电,空气放电对绝缘部分进行。
RS射频电磁场辐射抗扰度测试
测试目的:主要考察设备对外界电磁场干扰的抗扰能力。
测试频率:80M—6GHz
试验场强:3V/m、10V/m等
测试场地:全波暗室
EFT电快速瞬变脉冲群抗扰度测试
电感性负载的开关切换通常会产生脉冲群这类干扰,脉冲群成群出现、重复频率高、上升时间短暂、单个脉冲能量低。
测试目的:用于验证设备对电子电器设备产品的脉冲群的抗扰能力。
测试对象:设备的电源端口、接地端口、信号端口和控制端口。
SURGE浪涌抗扰度测试
测试目的:评估电气电子设备电源端口和信号端口的抗浪涌能力。
测试对象:设备的电源端口和信号端口
CS射频场感应的传导骚扰抗扰度测试
测试目的:设备受到射频场感应的传导骚扰时来验证设备的各端口的抗扰性能
测试频段:150K—80MHz
PFMF工频磁场抗扰度测试
正常情况下电流产生稳定的较小幅度的磁场,而故障条件下,电流会产生一个相对较高幅值,但持续时间较短的磁场。
测试目的:为了检验电气电子设备在遭受上述这类磁场扰动影响时性的性能。
DIP电压暂降和电压中断及电压变化抗扰度测试
电压暂降和电压中断是由电网、电力设备的故障或负荷突然出现大的变化引起的。电压变化是由连接到电网的负荷的连续变化引起的。
测试目的:测试EUT(被测设备)是否能对电源电压的变化及时作出反应,否则就有可能引发故障。
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最后
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