概述
1.FPGA版本为：aif_test_nomal_2ant_IF_30M72_ul_fir_old_rx_increase3db
测试1：
偏移量：7198-6828=370
射频输入波形：
射频输出波形：
射频设置界面：
测试2：
偏移量：1598-1228=370
射频输入波形：
射频输出波形：
射频设置界面：
最后
以上就是奋斗大米为你收集整理的LTE系统调试记录11：测试经过射频后接收端波形时偏变化情况测试1：测试2：的全部内容，希望文章能够帮你解决LTE系统调试记录11：测试经过射频后接收端波形时偏变化情况测试1：测试2：所遇到的程序开发问题。
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