IC 设计中DFT的Boundary Scan功能
在很大规模的IC设计中，往往会有一些各种各样的bug出现，不论是在前期design的过程，还是在post silicon流片回来chip的flaw，都会导致chip的功能的失败，时钟频率无法达到期望频率。所以，在超大规模集成电路的设计中，DFT就是一门非常重要的方法学，在消费者手中，往往不知道他们的存在，但是在IC工程师眼中，DFT往往会是一个救命的稻草，让我们在芯片出问题的时候，可以知道从哪
