每日一题-4.29-SRAM面积
29. SRAM的面积大小与哪些因素有关()ABCDA. 容量，即总的bit数目B. 地址译码方式C. 禁布区D. BIST电路解析：BIST全程build-in self-test，中文名内建自测电路，是一种DFT技术，设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。可以理解为一种自我检测的电路，方便用户查错。...
