概述
29. SRAM的面积大小与哪些因素有关()ABCD
A. 容量，即总的bit数目
B. 地址译码方式
C. 禁布区
D. BIST电路
解析：
BIST全程build-in self-test，中文名内建自测电路，是一种DFT技术，设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。可以理解为一种自我检测的电路，方便用户查错。
禁布区：可以理解为通过设定一些来约束布线的区域
最后
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