【计算机图形学】光栅化(深度测试与抗锯齿)
备注:本文乃此课笔记:https://www.bilibili.com/video/BV1X7411F744?p=61.采样理论2.实际光栅化1.采样理论经过三角形光栅化采样算法后,会出现明显的锯齿走样现象1.1走样的类型1.锯齿:采样存在空隙2.条纹:欠采样、采样过疏3.车轮效应:时间上的采样之所以会发生走样,是应为采样过慢,信号的频率太快1.2频域傅里叶变换可以将一个信号转化到频域上。滤波器(Filtering) :去掉某些频率内容图片转化到频域上显示:频域这张图