MCU提高ADC采样精度的几种方案

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我是靠谱客的博主甜美秋天，最近开发中收集的这篇文章主要介绍MCU提高ADC采样精度的几种方案，觉得挺不错的，现在分享给大家，希望可以做个参考。

1、开启ADC以后，延时一段时间，再采样，如果是连续采样的话，开始的几百个数据建议丢弃。原因就是开启ADC的瞬间，电压肯定是在波动状态的，这个时候采样肯定有问题。

2、过采样。如果采样频率高于信号最高频率的两倍，这种采样被称为过采样。（奈奎斯特采样定理-香农采样定理）
即尽可能快地采样数据，比如之前是1s采1次，现在做成100ms采1次，并把缓存10次的数据求平均。

3、使用基准电压，可以用外部基准电压或者内部基准电压。

4、提高电源稳定性，模拟电源VDDA单独供电。

5、硬件上在模拟输入端加滤波电路。

6、选择合适的ADC外设的时钟频率。

20210801补充：
常规的程序运行时都是在初始阶段进行各外设包括ADC的初始化操作，而其中的自校准操作要注意使用的基准电压已经稳定，且内部电压都已稳定。即可能需要在上电后进行一定延时再进行ADC自校准操作。

参考：
https://www.cnblogs.com/wy9264/p/12994974.html

以上就是甜美秋天为你收集整理的MCU提高ADC采样精度的几种方案的全部内容，希望文章能够帮你解决MCU提高ADC采样精度的几种方案所遇到的程序开发问题。

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