汽车电子功能安全标准ISO26262解析（六）——硬件集成测试

Hardware integration and testing activities shall be performed in accordance with ISO 26262-8: 2011, Clause 9.

硬件集成测试按照ISO26262-8：2011 Clause9 进行。

If ASIL decomposition is applied, the corresponding integration activities of the decomposed elements, and the subsequent activities, are applied at the ASIL before decomposition.

???如何理解

硬件集成测试的测试项目定义方法如表10所示。

1a: analysis of requirements 需求分析

1b: analysis of internal and external interfaces 内部和外部接口分析

1c: generation and analysis of equivalence classes 相同或类似产品的测试案例分析

1d: analysis of boundary values边界值分析

1e: knowledage or experience based error guessing可能出现的问题经验分析

1f: analysis of functional dependencies功能相关性分析

1g: analysis of common limit conditions, sequences and sources of dependent failures常规极限条件、序列、失效相关源

1h: analysis of environmental conditions and operational use cases环境条件和正常工作情况分析

1i: standards if existing标准

1j: analysis of significant variants最大版本分析，包括通过worst case计算得到的最坏情况结果

硬件测试种类

为了验证与硬件安全需求相关的安全机制被完整且正确地实施的硬件集成测试方法包括：功能测试、电测、错误注入测试。其中功能测试和电测必须执行，而错误注入测试只针对ASIL C和ASIL D的要求下，推荐执行。如表11所示。

为了验证外接压力条件下硬件可靠性的测试包括：环境测试、扩展功能测试、统计测试、最坏情况测试、超限值测试、机械测试、加速生命测试、机械耐久测试、EMC和ESD测试、化学测试。如表12所示。

1a: 环境测试，依据规范是ISO 16750-4。

1b: 扩展功能测试：检查当输入的条件可以预见为几乎不发生时或超出硬件的说明书规定时的功能表现。例如超过预设计的参数值或错误的命令。

1c: 统计测试：当输入数据选择为按照实际设计的参数值期望的静态分布时，测试硬件元器件。并定义可接受的标准，以便验证需要的失效率被满足。例如，50个晶振的jitter测试。

1d: 最差情况测试：目的在于验证在worst-case分析计算过程中发现的测试案例，例如AOT。

1e: 超限值测试：测试环境或者功能约束的严重度不断逐渐增加直到停止工作或损坏。目的是为了决定元器件可靠性的裕量。

1f: 机械测试：机械冲击等.

1g: 加速生命测试：即耐久测试。通过加速模型，模拟产品生命周期内环境因素对产品性能的影响，例如高温耐久、温度循环、温湿度耐久等。

1h: 机械耐久

1i: EMC和ESD测试：EMC测试标准包括ISO7637-2， ISO7637-3， ISO10605， ISO11452-4， ESD测试标准包括ISO16750-2.

1j: 化学测试：标准未ISO 16750-5.

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最后

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